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涂层测厚仪
涂层测厚仪
涂层测厚仪

CM30系列涂层测厚仪

上架时间:2025-05-27
浏览次数:26
产品参数:仪器型号 CM30F、CM30N、CM30FH、CM30FN
产品功能:测量磁性金属基体上的非磁性涂层或非磁性金属基体上的非导电覆层。
应用场景:本仪器可应用于制造业、金属加工业、航天航空、铁路运输、化工业、商检业等检测领域,是无损检测行业需要的仪器。
产品详情

超声波测厚仪

超声波测厚仪

探头选择

CM30系列涂层测厚仪是在CM10系列涂层测厚仪基础上

升级的一款全量程、多功能的涂镀层测厚仪。它可以配置宇时先锋所有分体探头,

用户根据需要可以选择一条或者多条探头进行任意匹配

超声波测厚仪

CM30涂层测厚仪技术参数

显示屏                  

2.4寸(320×240IPS彩色液晶屏                              

工作原理电磁原理/涡流原理
单位

公制/英制

分辨率

/低(仅公制模式下)

语言

中文/英文

统计数据

测量值个数、平均值、MAX值、MIN值标准偏差、变异系数

校准方式

零点调整一点校准、两点校准

文件

200

存储

200,000

背光

6档可调

关机

3分钟无操作后自动关机或只能手动关机

通讯

通讯软件(USB传输

显示模式

大数值模式,统计界面模式,趋势图模式

防护等级

IP68

电源

21.5V AA电池

操作时间

20小时

使用环境

-10+50 无强磁场环境

尺寸

121.5mm*63.5mm*31.5mm

重量

317g(不含探头和电池

保修

1

CM30涂层测厚仪测量参数

仪器型号

CM30F

CM30NCM30FNCM30FH
探头型号F3N2FN1.5F10
工作原理磁感应电涡流磁感应/电涡流磁感应
测量范围(um)0~30000-20000-15000-10000
分辨力(um)0.10.10.10.1
示值误差(um)±(2%H+2)±(2%H+2)±(2%H+2)±(2%H+10)
测量最小曲率半径(mm)55510



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